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Hast非飽和型老化試驗箱的功能優(yōu)勢
更新時間：2021-06-21 點擊次數(shù)：1105次
Hast非飽和型老化試驗箱可做高溫高濕高壓、雙85試驗等測試，用于電子原器件，LED封裝，芯片(IC)、集成電路、半導(dǎo)體等檢測產(chǎn)品性能之用。
【Hast非飽和型老化試驗箱安全保護裝置】
艾思荔采用三道高溫保護裝置、溫度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構(gòu)壓力保護等，完善的保護裝置，保障實驗室與操作人員安全。
【Hast非飽和型老化試驗箱設(shè)備質(zhì)量性能】
工藝技術(shù)品質(zhì)好，耐磨性強，設(shè)備性能穩(wěn)定，使用壽命可達20年。
【Hast非飽和型老化試驗箱新技術(shù)*優(yōu)勢】
優(yōu)的溫濕度jing密控制邏輯，防止待測品潮濕與結(jié)露的模式選擇壓力值采實際感應(yīng)偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度。
可選購多個BIAS電壓端子：符合JESD22-A110之實驗規(guī)范要求，模擬待測品在高溫、高濕環(huán)境下，加載大式作電壓，檢測內(nèi)部封裝模塊材料接合與保護層的滲透，并且觀察是否造成遷移。
【合作案例】濟南半導(dǎo)體研究所、廣州賽寶、北京航空航天大學(xué)、華為技術(shù)、中北大學(xué)、NEC電子、北京協(xié)同創(chuàng)新研究院、比艾奇、訊芯等等企業(yè)。
