環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法之標準匯集
更新時間：2012-01-07 點擊次數：1544次
GB／T5170．1—1995電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法總則
GB／T5170．2—1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備
GB／T5170．5—1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法濕熱試驗設備
GB／T5170．8—1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法鹽霧試驗設備
GB／T5170．9—1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法太陽輻射試驗設備
GB／T5170．10—1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法高低溫低氣壓試驗設備
GB／T5170．11—1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法腐蝕氣體試驗設備
GB／T5170．13—2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺
GB／T5170．14—1985電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦）試驗用電動眼動臺
GB／T5170．15—2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺
GB／T5170．16—2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機
GB／T5170．17—2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫／低氣壓／濕熱綜合順序試驗設備
GB／T5170．18—2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)試驗設備
GB／T5170．19—2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度／振動（正弦）綜合試驗設備
GB／T5170．20—2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法水試驗設備
環(huán)境試驗設備
GB／T10586—2006濕熱試驗箱技術條件
GB／T10587—2006鹽霧試驗箱技術條件
GB／T10588—2006長霉試驗箱技術條件
GB／T10589—1989低溫試驗箱技術條件
GB／T10590—2006高低溫／低氣壓試驗箱技術條件
GB／T10591—2006高溫／低氣壓試驗箱技術條件一
GB／T10592—1989高低溫試驗箱技術條件
GB／T11158—1989高溫試驗箱技術條件
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溫濕度振動三綜合試驗機：http:///news/class/?1.html
高低溫濕熱交變試驗機：http:///asp-bin/GB/index.asp?page=7&class=60
濕冷凍試驗箱：http:///st12126/list_51837.html
