美觀大氣 . 操作簡便 . 功能強大

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高溫高濕高壓加速老化試驗箱特點：

1、采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。

2、采用指針顯示正負壓表；時間控制器采LED顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。

3、圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計。

4、圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.

5、精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)200h。

6、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內(nèi)有大于常壓時測試門會被反壓保護。

7、內(nèi)壓力愈大時,ASLI,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長PCT壽命。

8、臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。

9、安全閥，當鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

10、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

高溫高濕高壓加速老化試驗箱儀器用途：

   高溫高濕高壓加速老化試驗箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間.

艾思荔成功案例如下:

【半導體案例】三環(huán)集團，NEC，秀武，永磁集團，鋼，包鋼，烏鋼，樂凱，信利半導體，熒光磁業(yè)，盛元，昶盛磁業(yè)，金港磁性元件，京湘磁業(yè)，伊瑪，凱圣新材料，中之，浙鐵大風，晶導

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