一、高低溫老化試驗箱適用范圍：

　　※高低溫老化試驗箱國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，船舶部件、電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒、耐干性能及研發(fā)，質(zhì)量管理工程之試驗規(guī)范。

　　※試驗考核和確定鎳鎘電池、鎳氫電池、鋰離子電池、鉛蓄電池、鋰電池在耐高低溫，溫度沖擊，溫度濕熱等各種氣候環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，高低溫(防爆)試驗箱適用于汽配廠，電池廠，能源動力公司，，研發(fā)等單位。

　　二、高低溫老化試驗箱規(guī)格型號及技術(shù)參數(shù)：

　　TS-408L

　　TS-800L

　　TS-1000L

　　1.溫度范圍：-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-70~+150/-85~+150℃。

　　2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃

　　3.分布均勻度：±1.5℃

　　4.正常升溫時間：-+20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。

　　5.正常降溫時間：+20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/+20~-50℃小于65分鐘.

　　+20~-60℃小于70分鐘/+20~-70℃小于75分鐘/20~-85℃小于100分鐘非線性空載.

　　適合測試：鋰離子、鎳氫、鎳鎘、鉛酸、金屬氫化物鎳等多種類型的單體電池和電池組，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB8897.4-200(idtIEC60086-4：2000)《原電池4部分：鋰電池的安全要求》、GB8897.5-2006(idtIEC60086-5：2005)《原電池5部分：水溶液電解質(zhì)電池的安全要求》、IEC62133：2002《堿性或其它非酸性電解液二次單體電池和電池組便攜式密封二次單體電池和電池組的安全要求》、IEC61951-1：2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組1部分:

　　鎳鎘電池》、IEC61951-2:2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組2部分:鎳金屬氫化物》、 IEC61960：2003《堿性或其它非酸性電解液二次單體電池和電池組便攜式二次鋰單體電池和電池組》、UL1642：2006《鋰蓄電池組》進行熱濫用(*溫)和熱沖擊試驗項目。

　　三、高低溫老化試驗箱控制器：

　　采用韓國“TEMI”880彩色型5.7寸或10.4寸*微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按鍵型，中英文表示及320×240點的圖形之廣視角，高對比附可調(diào)背光功能之溫濕度同時可程控器，具100組程序1000段次記憶，每段99Hour59Min，每段可循環(huán)999次，可任意分割設(shè)定，并附多組PID控制功能.

　　四、高低溫老化試驗箱特性：

　　1)全新的圓弧造型設(shè)計,外觀質(zhì)感高水準(zhǔn),美觀大方,并采用平面無反作用把手，操作容易。

　　2)進口型多功能,擴展性強之溫度控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,控制穩(wěn)定可靠.可供低溫及超低溫雙重試驗

　　3)可靠優(yōu)良的均勻送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)長軸馬達部垂直安裝，防止因長期連續(xù)運轉(zhuǎn)而導(dǎo)致的馬達主軸偏心。

　　4)進口離心風(fēng)機結(jié)合水平及垂直角度可調(diào)雙層百葉強制送風(fēng)循環(huán)設(shè)計，可避免箱內(nèi)的氣流死角,保證箱內(nèi)每個角落溫濕度均勻度更加*。

　　5)寬敞明亮之大型電熱觀察視窗：由三層超大型真空鍍膜(加熱膜)視窗及高亮度熒光燈組合而成，可清楚觀察箱內(nèi)試驗樣品，并有效防止因內(nèi)外溫差而引起的水霧形成,讓使用者可隨時觀測試驗箱內(nèi)的狀況。

　　6)*的安全保護.確保機器本身,被測產(chǎn)品及使用者安全，獨立于主控制器之電子式超溫保護裝置可設(shè)定受測對象之溫度上限保護。

　　7)的安全、保護裝置-漏電斷路器、干燒保護器、缺相保護器、制冷機組超壓、過載、油壓等保護裝置。

　　8)可靠的冷凍系統(tǒng)*歐美全密閉壓縮機.具有的冷凍器件及高效率冷熱交換

　　五、高低溫老化試驗箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

　　1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.

　　2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.

　　3.GB/T2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》.

　　4.GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:高/低氣壓試驗方法》.

　　5.GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》.

　　6.GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》.

　　7.GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗.

　　8.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序.

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